三维光学轮廓仪 ContourX-100

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详细介绍：

流线型桌面式的ContourX系列，配备先进白光干涉模块、快速自动聚焦和自动亮度调节、手动样品台及倾斜控制

具备高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比高的台式系统。

特点卓越计量能力

ContourX-100 轮廓仪是布鲁克 40 多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域专有光学创新和行业领导力的结晶。该系统利用三维 WLI 和二维成像技术，一次采集可执行多次分析。ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情况下都能发挥稳定性能。